Das Omicron „UHV AFM/STM“ ist ein Kombinationsgerät für AFM und STM, mit einer in einen Computer integrierten Ausleseelektronik. Es kann im Kontakt- und "tapping"-Modus verwendet werden. Typische AFM-Cantilever sind z.B. vom Typ PNP-DB-20. Die Probenstage ist für Probenhalter nach Omicron-Standard ausgelegt. Proben bis zu einem Zentimeter Größe können untersucht werden.

 
Hier werden hauptsächlich Nanostrukturen von ~20 bis ~400 Nanometern Breite und von ~1 bis ~500 Nanometern Höhe in situ untersucht. Nanostrukturen lassen sich beispielsweise in situ durch Ionenbeschuss herstellen. Dazu ist an den UHV-Behälter eine Ionenquelle vom Typ Leybold „IQE 12/38“ angeflanscht.

 
Ein möglicher Einsatzzweck ist, die Entwicklung selbstorganisierter Nanostrukturen unter Ionenbeschuss schrittweise mit dem AFM zu dokumentieren. Solche Nanostrukturen verleihen der Oberfläche eines Festkörpers beispielsweise neue elektronische/optische Eigenschaften.