Erforschung von Ursachen für Fallenzustände an Grenzflächen der organischen Elektronik

In der organischen Elektronik werden statt anorganischen, oft teuren und konfliktbelasteten Materialien wie Metalle, Oxide und den klassischen Verbindungshalbleitern organische, maßgeschneiderte Polymere, Moleküle und Hybridsysteme eingesetzt. Dadurch können elektronische Bauteile mit industriellen und großtechnischen Druckverfahren kostengünstig und ressourcenschonend hergestellt werden.

Die AG Ziegler erforscht schon sehr lange Bauteile und Grenzflächensysteme für die organische Elektronik und Spintronik. Eine große Herausforderung ist die Vermeidung von ungewünschten Fallenzuständen in der elektronischen Zustandsdichte von organischen Halbleitern. In einem aktuellen angewandten Forschungsprojekt sollen deren Ursachen durch unterschiedliche Präparationsverfahren und Degradationseffekte untersucht werden. Dabei soll explorativ ein neuartiger Versuchsaufbau mit einer Laser-Lichtquelle für die Photoelektronenspektroskopie zusammen mit dem Photonikzentrum Kaiserslautern getestet werden.

Methodisch liegt der Schwerpunkt auf der Präparation von Bauteilen mittels Lithographie (im NSC) und gängigen Beschichtungsmethoden. Die anschließende Charakterisierung erfolgt durch Photoelektronenspektroskopie (PES: UPS, XPS), Infrarot-Spektroskopie (IR), Rasterkraftmikroskopie (AFM) und eklektischer (Transistor-) Kennlinien. Hierbei kommen auch modernste Ultra-Hochvakuum (UHV) Systeme zum Einsatz.

Ab sofort suchen wir interessierte Studierende, die ihre Abschlussarbeit in diesem Forschungsbereich durchführen möchten.

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