In diesem Versuch lernen Sie mit dem Rasterkraftmikroskop ein Messgerät kennen, das in vielen Bereichen der naturwissenschaftlichen Forschung unabdingbar geworden ist. Seine physikalischen Grundlagen sind ein Beispiel dafür, wie ein harmonischer Oszillator als Sensor verwendet werden kann. Weiterhin haben Sie die Möglichkeit, eine Probe Ihrer Wahl, die Sie schon immer einmal genauer anschauen wollten, mitzubringen und mittels unseres Rasterkraftmikroskopes zu untersuchen. Sie können dabei Strukturen abbilden, die weit jenseits des Auflösungsvermögens optischer Mikroskope liegen. Zusätzlich zu diesem Einführungsskript zum Versuch finden Sie am Versuch die Bedienungsanleitung des verwendeten Rasterkraftmikroskops und seiner Ansteuerungssoftware. Vor Versuchsbeginn sollten Sie unbedingt mit dem Inhalt des Einführungsskriptes vertraut sein und erst einmal mit dem Betreuer erste Schritte am Versuch durchgehen und die Bedienung besprechen. Die 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber eingeführte Rasterkraftmikroskopie (engl. atomic force microscopy, AFM oder scanning force microscopy, SFM) gehört zur Gruppe der Rastersondenmikroskopie und hat sich zu einer weit verbreiten Mikroskopietechnik in der Materialwissenschaft entwickelt. Bei der Rasterkraftmikroskopie wird die Probenoberfläche mit einer an einem Biegebalken befestigten Spitze zeilenweise abgetastet.